Medidor espesor capas TC 1250-0.1 para fondos ferromagneticos y no ferromagneticos KERN
Instrumentos de medida SAUTER
- EAN:
- 4045761140066
- Marca:
- SAUTER
- Ref. Fabricante:
- TC 1250-0.1FN.
- Envase:
- 1 Unds.
- Peso:
- 1 Kg.
- Dimensiones:
- 220/260/75 largo/ancho/alto en mm
- Pág. Catálogo:
- 4131
Medidor de espesor de capas por ultrasonidos TC 1250-0.1FN Características: Práctico medidor de espesor de capas con salida de datos RS232. Se suministra con placas de prueba cero, láminas de ajuste y 4 micropilas AAA/LR03, 1,5 V, en bolsa de transporte. Rango de medición: Lectura: • 0 a 100 µm 0,1 µm • 100 a 1250 µm 1 µm Inseguridad de medición (después de la calibración): • Estándar: 3 % o bien ± 2,5 µm • Offset-Accur: 1 % o bien ± 1 µm Funciones: Offset-Accur: Con esta función, el dispositivo de medición puede ajustarse exactamente al rango de medición concreto mediante una calibración de dos puntos, para alcanzar así una mayor precisión del 1 % (o menos) del valor de medición.
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Características: Práctico medidor de espesor de capas con salida de datos RS232. Se suministra con placas de prueba cero, láminas de ajuste y 4 micropilas AAA/LR03, 1,5 V, en bolsa de transporte.
Rango de medición: Lectura:
• 0 a 100 µm 0,1 µm
• 100 a 1250 µm 1 µm
Inseguridad de medición (después de la calibración):
• Estándar: 3 % o bien ± 2,5 µm
• Offset-Accur: 1 % o bien ± 1 µm
Funciones: Offset-Accur: Con esta función, el dispositivo de medición puede ajustarse exactamente al rango de medición concreto mediante una calibración de dos puntos, para alcanzar así una mayor precisión del 1 % (o menos) del valor de medición.
Características: Práctico medidor de espesor de capas con salida de datos RS232. Se suministra con placas de prueba cero, láminas de ajuste y 4 micropilas AAA/LR03, 1,5 V, en bolsa de transporte.
Rango de medición: Lectura:
• 0 a 100 µm 0,1 µm
• 100 a 1250 µm 1 µm
Inseguridad de medición (después de la calibración):
• Estándar: 3 % o bien ± 2,5 µm
• Offset-Accur: 1 % o bien ± 1 µm
Funciones: Offset-Accur: Con esta función, el dispositivo de medición puede ajustarse exactamente al rango de medición concreto mediante una calibración de dos puntos, para alcanzar así una mayor precisión del 1 % (o menos) del valor de medición.